TT230涂层测厚仪/TT230氧化膜测厚仪
TT230涂层测厚仪是一种超小型测量仪，TT230氧化膜测厚仪能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。TT230涂层测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于TT230氧化膜测厚仪体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
TT230 涂层测厚仪符合以下标准：
GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法
JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
TT230涂层测厚仪特点
TT230 涂层测厚仪采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）
可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、
测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；
具有米、英制转换功能；
具有打印功能，可打印测量值、统计值；
具有欠压指示功能；
操作过程有蜂鸣声提示；
具有错误提示功能；
具有自动关机功能。
TT230涂层测厚仪技术参数
测头类型 | N | |
测量原理 | 电涡流 | |
测量范围 | 0-1250um/0-40um(铜上镀铬) | |
低限分辨力 | 1µm(10um以下为0.1um) | |
探头连接方式 | 一体化 | |
示值误差 | 一点校准(um) | ±[3%H+1.5] |
两点校准(um) | ±[（1%~3%）H+1.5] | |
测量条件 | 最小曲率半径(mm) | 凸3 凹10 |
基体最小面积的直径(mm) | ф5 | |
最小临界厚度(mm) | 0.3 | |
温湿度 | 0~40℃ | |
统计功能 | 平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、 | |
工作方式 | 直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl) | |
测量方式 | 连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE） | |
上下限设置 | 无 | |
存储能力 | 15 个测量值 | |
打印/连接计算机 | 可选配打印机/不能连接电脑 | |
关机方式 | 自动 | |
电源 | 二节3.6V镍镉电池 | |
外形尺寸 | 150×55.5×23mm | |
重量 | 150g | |
北京时代TT230涂层测厚仪配置
主机
标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）
铝基体
充电器