TT220涂层测厚仪的应用行业

TT220涂层测厚仪的应用行业
TT220涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等） 及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。TT220涂层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，TT220涂层测厚仪是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
TT220涂层测厚仪功能特点
采用了磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性，覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正，具有米、英制转换功能，具有打印功能，可打印测量值、统计值，具有欠压指示功能，操作过程有蜂鸣声提示，具有错误提示功能，有自动关机功能
TT220涂层测厚仪的测量方式：
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据
设有五个统计量：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
TT220涂层测厚仪技术参数
测头类型：F
测量原理：磁感应
测量范围： 0-1250um
低限分辨力：1µm(10um以下为0.1um)
探头连接方式：一体化
示值误差：
一点校准(um)：±[3%H+1]
两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1]
测量条件：
最小曲率半径(mm)：凸1.5 | 凹9
基体最小面积的直径(mm)：ф7
最小临界厚度(mm)：0.5
温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
统计功能：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
上下限设置：无
存储能力：15个测量值
打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑
关机方式：自动
电源：二节3.6V镍镉电池
外形尺寸：150×55.5×23mm
重量：150g
TT220涂层测厚仪基本配置
TT220涂层测厚仪主机，铁基体，标准片一套，充电器，使用说明书
TT220涂层测厚仪的原理：
TT220涂层测厚仪采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪可以测量有导磁基体上的非导磁覆层厚度。
TT220涂层测厚仪操作指南：
1.单次测量与连续测量的转换：
两种方式的转换方法是：在关机状态下，按住“MODE”键后，再按“ON/C”键，随着一声鸣响，转换完成。
2.测量方法
将测头置于开放空间，按一下“ON/C”键，开机。迅速将测头与测试面垂直地接触并轻轻压住，随着一声鸣响，屏幕显示测量值，提起测头可进行下次测量；如果在测量中测头放置不稳，显示一个明显的可疑值，可在“DEL ONE？”状态删除该值；重复测量三次以上，在“DIS STATS？” 状态，可依次显示五个统计值，即：平均值（MEAN）、最大测量值（MAX）、最小测量值（MIN）、测量次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）。
TT220涂层测厚仪校准方法
本仪器有两种测量中使用的校准方法，零点校准；二点校准；还有一种针对测头的基本校准。
⒈ 零点校准
a． 在基体上进行一次测量，仪器显示＜×.×μm＞。
b． 按一下“ON/C”键，屏显＜0.00μm＞即完成零点校准。
c． 要准确地校准零点，须重复上述a、b 以获得基体测量值小于1μm，这样有利于提高测量精度。零点校准完成后就可进行测量了。
⒉ 二点校准
a． 先校零点（见上）。
b． 在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量，屏幕显示＜×××μm＞。
c． 用▲或▼键修正读数，使其达到标准片上的标称值。校准已完成，可以开始测量了。
注意：即使显示结果与标准片值符合，按▲、▼键也是必不可少的，例如按一次▲键一次▼键。如欲较准确地进行二点校准，可重复 b、c 过程，以提高校准的精度，减少偶然误差。
TT220涂层测厚仪如何正确校准？
为使测量准确，应在测量场所对仪器进行校准。
一、校准标准片（包括箔和基体）
已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。
⒈ 校准箔
对本仪器“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。“箔”有利于曲面上的校准。
⒉ 有覆盖层的标准片
采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。对于本仪器，覆盖层应是非磁性的。
二、基体
⒈ 对于本仪器标准基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
为了证实标准片的适用性，可用标准片的基体与待测试件基体上所测得的读数进行比较。
⒉ 如果待测试件的基体金属厚度没有超过参数表中所规定的临界厚度，可采
用下面两种方法进行校准：
1) 在与待测试件的基体金属厚度相同的金属标准片上校准；
2) 用一足够厚度的，电学或磁学性质相似的金属衬垫标准片或试件，但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件，不能采用衬垫法。
⒊ 如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准，则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率，应与试样的曲率相同。
TT220涂层测厚仪测量值影响精度因素
a 基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。
b 基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
c 基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
d 边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
e 曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
f 试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
g 表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
g 磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
TT220涂层测厚仪如何正确校准？
为使测量准确，应在测量场所对仪器进行校准。
一、校准标准片（包括箔和基体）
已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。
⒈ 校准箔
对本仪器“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。“箔”有利于曲面上的校准。
⒉ 有覆盖层的标准片
采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。对于本仪器，覆盖层应是非磁性的。
二、基体
⒈ 对于本仪器标准基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
为了证实标准片的适用性，可用标准片的基体与待测试件基体上所测得的读数进行比较。
⒉ 如果待测试件的基体金属厚度没有超过参数表中所规定的临界厚度，可采
用下面两种方法进行校准：
1) 在与待测试件的基体金属厚度相同的金属标准片上校准；
2) 用一足够厚度的，电学或磁学性质相似的金属衬垫标准片或试件，但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件，不能采用衬垫法。
⒊ 如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准，则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率，应与试样的曲率相同。

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